赫爾納供應法國elcowa技術(shù)探測器METRON07CI

赫爾納供應法國elcowa技術(shù)探測器METRON07CI

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elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI 主要產(chǎn)品：

1.  探測器

2.  金屬顆粒檢測器

elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI 產(chǎn)品型號：

l  DPM

l  METRON 07 CI

elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI 產(chǎn)品特點：

DPM 與 X 射線！由于這兩種技術(shù)不同，X 射線檢測系統(tǒng)通常可以獲得更好的檢測靈敏度，因為所尋找的金屬的性質(zhì)對結(jié)果幾乎沒有影響。此外，DPM 對含有金屬的成品（鋁盤、金屬蓋、鋼罐等）無效。

elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI 產(chǎn)品應用：

elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI 在食品、藥品和化妝品中

自 80 年代以來分布，根據(jù)渦流原理（磁場技術(shù)）運行。一個檢測組件由一個回路、一個傳輸系統(tǒng)和一個噴射器組成。有產(chǎn)品就有配置，散裝、包裝、液體或糊狀產(chǎn)品。

檢測回路由兩個發(fā)射線圈和一個接收線圈組成，可以或多或少地檢測金屬，如鋼、不銹鋼、鐵、黃銅、青銅、銅等。取決于感應的磁場按金屬類型。

矛盾的是，elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI我們行業(yè)中常用的不銹鋼，例如 304 或 316 不銹鋼，是難檢測到的。出于這個原因，為了使設(shè)備具備這些檢測能力，定義了鐵、非鐵和不銹鋼閾值。

借助我們的 X 射線技術(shù)設(shè)備、我們且經(jīng)的員工，我們可以為您提供控制保證，以在您的控制設(shè)備出現(xiàn)污染或故障時將您的產(chǎn)品重新投放市場。

elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI ELCOWA 在尋找異物或缺陷方面擁有 25 年的經(jīng)驗，在米盧斯設(shè)有一個的控制中心，可幫助您快速處理此類危機。PQC 服務 – 檢測磚/瓷磚/瓷磚碎片

在食品中

elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI是一種檢測和檢測設(shè)備，在鍍鋁、純鋁或中性包裝中要檢查的產(chǎn)品而設(shè)計。它檢測可磁化金屬，如鐵、鋼，甚至弱磁性不銹鋼。

elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI該系統(tǒng)由一個高度可調(diào)的大功率磁鐵組成，在輸入端可將金屬碎片感應的磁場相乘，然后通過兩個超靈敏的表面?zhèn)鞲衅鳎@些傳感器可根據(jù)要檢查的產(chǎn)品的確切尺寸進行調(diào)節(jié)。它適用于自動彈出或視覺上的應用，使用屏幕實時再現(xiàn)傳感器接收到的信號。

與傳統(tǒng)的金屬顆粒檢測器 (DPM) 不同，elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI 對產(chǎn)生的影響（水、鹽等）不敏感。對于高度小于 160 mm 的產(chǎn)品，它實現(xiàn)了的磁性粒子搜索靈敏度。

另一個污染源是蔬菜、水果、調(diào)味品、谷物或干果等原材料在收獲時經(jīng)常受到影響。一些產(chǎn)品在所謂的直接在地面上進行分類、干燥、去殼和處理。

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即使存在機械技術(shù)通過去石、比色分選機或目視去除它們，去除這種異物也并不總是可能的。

elcowa技術(shù)探測器METRON 07 CI磚、陶器或瓷磚的密度接近于玻璃，我們可以獲得符合消費者保護的良好檢測靈敏度。